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標題: 新技術一次性查出胚胎內基因變異 [打印本頁]

作者: jiunn36 時間: 2024-9-23 08:13 AM 標題: 新技術一次性查出胚胎內基因變異

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　　瑞典卡羅林斯卡學院和荷蘭馬斯特裡赫特大學科學家攜手﹐成功開發出一種新檢測技術能在單次檢測中精準篩查出胚胎內所有已知的基因變異。與現有檢測方法相比﹐該技術更準確快捷﹐為那些有遺傳疾病的父母誕下健康寶寶帶來可能。相關論文發表於最近的《自然·通訊》雜誌。
　　有些准父母可能誕下罹患嚴重遺傳病的嬰兒﹐或因染色體異常而反覆流產。因此﹐他們會選擇進行植入前基因檢測(PGT)。PGT會篩查胚胎內已知的基因異常﹐醫生隨後將無異常的胚胎植入母親子宮內。但現有技術只能檢查胚胎遺傳信息的特定部分﹐而基因變異可能發生在不同地方。因此﹐准父母們需要接受不同檢測﹐以篩查不同類型的基因變異。
　　研究人員新開發出的檢測技術能一次分析胚胎的整個基因組﹐包括所有基因和染色體﹐更快﹑更有效地檢測出已知的基因變異。這一創新不僅極大提高了基因檢測的準確性和效率﹐也意味著無需為每種疾病開發測試方法。而且﹐新技術還能檢測出線粒體DNA中的特定基因變異。
　　研究團隊表示﹐除了能更完整地揭示整個胚胎的基因異常外﹐新技術甚至可以揭示遺傳物質內最小的錯誤﹐準確率高達99%以上。

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